Рассмотрены свойства основных полупроводниковых материалов и характеристики барьерных структур (p–n-переходов и гетеропереходов), использующихся при создании оптоэлектронных приборов. Описаны принципы действия, основные характеристики и конструкции фотодиодов, фотопреобразователей, светодиодов и инжекционных лазеров.

Изложены вопросы генерирования, распространения и приема электромагнитной энергии в виде пучка света по диэлектрическому (оптическому) волноводу. Рассмотрены процессы ослабления и дисперсии светового импульса, применяемые для оптических волокон материалы, принципы кодирования сигналов и построения оптических систем связи.

Книга Клааса Б.Клаассена закрывает существенный пробел в отечественной учебной литературе, являясь введением в технику электронных измерений. Написанная на основе лекций, прочитанных автором в Дельфтском университете, книга сохраняет живость изложения; автор непринужденно переходит от фундаментальных аспектов к практическим и даже бытовым примерам.

Излагаются физические и технологические основы наноэлектроники, в том числе принципы функционирования и характеристики наноэлектронных устройств на базе квантово-размерных структур: резонансно-туннельных, одноэлектронных и спинтронных приборов. Рассматриваются особенности квантовых компьютеров, электронных устройств на сверхпроводниках, а также приборов нанобиоэлектроники. Каждая глава снабжена контрольными вопросами и заданиями для самоподготовки.

Поиск неисправности с помощью измерительных приборов требует умения работать с этими приборами.

Professional comptroller by illumination - лучшее на сегодняшний день программное решение для управления массивами светодиодных приборов. Список поддерживаемых программой протоколов обширен: DMX512, DVI, Art-Net, Streaming ACN, Philips Color Kinetics and Insta/ROBE protocols, Eurolite T9, and ColourSmart Link.

В книге Контрольно-измерительные приборы и инструменты представлена классификация, а также принципиальные схемы средств контроля и измерения. В ней приводятся основы теории измерений, даны сведения по оптимальному выбору средств контроля и измерений. Кроме того, рассмотрены принципы обеспечения единства измерений и методы обеспечения точности измерений.